インサーキットテスター
インサーキット・テスト・システム ICT
ＢＧＡ部品クラスの足浮きテストに対応可能、リルート配線が不要。
同一基板に大量実装生産されるメーカー様の歩留まり向上に貢献する検査装置として是非ご活用ください。
ICT（インサーキット・テスト・システム）は、絶えず小さくなるパッケージサイズ、増加するボードの複雑さ、制約の多いテストアクセス、コスト低減などの課題を克服するソリューションをご提供します。
テスト試験をご検討のメーカー様には受託試験も対応させていただきます。
特長
ＶＴＥＰ v2.0によりＢＧＡ部品クラスの足浮きテストに対応可能（ベクターレス・テスト技術）
- テストする1つのピン以外のピンをすべてGNDに接続する。
- テストするひとつのピンに小さな交流信号を印加する。
- センサ・プレートとの間に発生する微小な容量成分を測定する。
- あらかじめ良品で得た値と比較することで、ピンの足浮き（オープン不良）を検出する。
Note: オープン不良があると、信号がICに印加されないため、容量値が変化する。
ビードプローブにより、リルート配線が不要（高速信号ラインでの信号品質劣化対策）
ビードプローブの場合、信号波形品質にほとんど影響を与えていない。
ネットワーク・パラメータ測定（NPM）機能
ネットワーク・パラメータ測定（NPM）機能により従来インサーキット・テストでは困難とされていたコネクタの電源／グランド・ピンの足浮き検査も実現できます。
オートデバッグ機能
オートデバッグ機能も搭載した優れた操作性
既存MDAの冶具も活用可能
既存MDAの冶具も活用可能です。
※インサーキット・テスト・システム用冶具（ピンボード）製作もしております。
※設備投資ができない、テスト的に試験してみたいというお客様には受託試験も対応させていただきます。
（参考）インサーキット・テスト・システム：ＩＣＴとは
インサーキットテスタは電気的に検査を行う為、部品の定数間違いやコネクタやICリードのマイクロショートによる不良など目視検査や目視支援検査装置では発見できない不良も確実に発見できる装置です。
また、基板を動作させることなく個々の部品を検査できることから、基板を破損させることはなく不良箇所の位置も特定できプリント基板実装ラインでは、なくてはならない検査設備となっております。
- ハンダのショート、オープン不良
- 抵抗、コンデンサ、コイル等の定数間違いによる不良
- 抵抗、コンデンサ、コイル、ダイオード、トランジスタ等の部品欠品不良
- IC、コネクターのリード浮き不良
- デジタルトランジスタやフォトカプラ、ツェナーダイオードの動作確認etc
詳細についてのお問い合わせは
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